臺(tái)州集成測試系統(tǒng)設(shè)備

智能儀器組成的智能測試系統(tǒng)，在這類測試系統(tǒng)中，往往有多個(gè)重復(fù)的部件或功能單元。例如，在一個(gè)IEEE-488儀器系統(tǒng)中可能包含微機(jī)、邏輯分析儀、數(shù)字示波器、智能數(shù)字多用表、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等多臺(tái)帶GPIB接口的單獨(dú)式智能儀器。它們都有CRT、鍵盤和存儲(chǔ)器等部件。因此，在利用臺(tái)式、便攜式甚至機(jī)架疊層式智能儀器組成測試系統(tǒng)時(shí)，勢必造成資源浪費(fèi)、成本過高。PC儀器系統(tǒng)，將傳統(tǒng)式單獨(dú)儀器的測量電路部分與接口部分集中在一起制成儀器卡，而儀器所需的鍵盤、GRT和存儲(chǔ)器等均借助PC機(jī)的資源，就構(gòu)成了PC儀器，又稱模塊式儀器。隨著眾多總線系統(tǒng)的電性能不能滿足官方、航天等部門的更高要求，故改善PC儀器系統(tǒng)的性能并便其標(biāo)準(zhǔn)化勢在必行。功能測試系統(tǒng)能夠快速識(shí)別產(chǎn)品的功能性缺陷。臺(tái)州集成測試系統(tǒng)設(shè)備

隨著自動(dòng)測試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測試正在逐漸被自動(dòng)測試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線的出現(xiàn)較大程度上簡化了自動(dòng)測試系統(tǒng)的開發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類型也千變?nèi)f化；因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測試資源TR的測試接口ITA，是簡化測試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。每個(gè)被測對(duì)象(UUT)具有不同的信號(hào)激勵(lì)點(diǎn)和信號(hào)獲取點(diǎn)，這些都需要一個(gè)接口以實(shí)現(xiàn)UUT 和TE的信號(hào)連接，此接口即測試接口適配器ITA。ITA負(fù)責(zé)完成UUT 和TE 的機(jī)械與電氣連接，為TE各個(gè)信號(hào)點(diǎn)和UUT各個(gè)信號(hào)點(diǎn)指定路由路徑。臺(tái)州集成測試系統(tǒng)設(shè)備測試流程優(yōu)化：通過優(yōu)化測試流程，提高測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。

FrameScan電容藕合測試 FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1 夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2 測試儀內(nèi)的模擬測試板（ATB）依次向每個(gè)被測管腳發(fā)出交流信號(hào)。3 電容性探頭采集并緩沖被測管腳上的交流信號(hào)。4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測到信號(hào)；如果該管腳脫開，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測試成本稍高。

在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測試的影響。IC的測試 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測試。向量測試類似于真值表測量，激勵(lì)輸入向量，測量輸出向量，通過實(shí)際邏輯功能測試判斷器件的好壞。如:與非門的測試對(duì)模擬IC的測試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測試。通用自動(dòng)測試系統(tǒng)：適用于多種電子設(shè)備，實(shí)現(xiàn)快速、高效的自動(dòng)化測試。

功能系統(tǒng)測試，元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測試是一類針對(duì)整件的綜合性測試，在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn)：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測試?yán)螅聛淼墓ぷ骶褪呛枚嗔耍?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn)：⒈ 結(jié)果取決于測試?yán)脑O(shè)計(jì)，測試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來勢來源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來做的，還做不到針對(duì)被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說，尋找和確定造成程序crash的測試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測試來說，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)用于驗(yàn)證產(chǎn)品在不同環(huán)境下的可靠性。常州電子測試系統(tǒng)

無線綜合測試：針對(duì)無線通信設(shè)備，實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測試。臺(tái)州集成測試系統(tǒng)設(shè)備

接口技術(shù)。針對(duì)不同電路板的的測試，已出現(xiàn)多種通用接口標(biāo)準(zhǔn)。如商用領(lǐng)域的ARINC，jun工領(lǐng)域的CASS，航空領(lǐng)域的MATE等。在商業(yè)領(lǐng)域大量使用的ARINC接口發(fā)展較快，指令完備，但成本較高，適用于大、中型企業(yè)和機(jī)構(gòu)的使用。電路板測試已經(jīng)向通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、開放式、模塊化、系列化的方向發(fā)展，相關(guān)技術(shù)發(fā)展也緊跟世界高新技術(shù)保持同步，充分利用了工業(yè)界多年來所取得的成果，成為跨學(xué)科、跨領(lǐng)域、跨專業(yè)的一門綜合技術(shù)學(xué)科。在線測試，主要進(jìn)行測量控制板的R/L/C等元器件的電氣數(shù)值，以確定有無反插、漏件、錯(cuò)插件等；功能測試，主要檢測主板整體運(yùn)行性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo)，各模塊工作是否正常等；只有成功經(jīng)過以上兩步測試的控制板才算是合格產(chǎn)品。臺(tái)州集成測試系統(tǒng)設(shè)備